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锗片抛光研磨设备
2026-01-14

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  锗片作为重要的红外光学与半导体材料,凭借优异的红外透过性、高折射率及良好的半导体特性,成为红外探测器、热成像仪、光纤通信器件、半导体掺杂衬底等领域的核心基材。由于锗片硬度较低、脆性显著,加工过程中极易产生划痕、崩边及亚表面损伤,且表面易氧化污染影响光学与电学性能,其表面加工精度直接决定终端产品的探测灵敏度与运行可靠性。锗片抛光研磨设备通过精准的工艺协同与洁净低损伤加工设计,有效攻克锗片加工瓶颈,为高性能锗片量产提供核心支撑,是红外光学与半导体制造生态的重要组成部分。


  锗片抛光研磨设备的核心优势,体现在洁净低损伤加工与精密参数控制的双重保障上。设备普遍采用高刚性一体式床身与静压轴承支撑技术,确保加工过程中端面跳动控制在极低范围,减少振动对表面质量的影响;搭配精密伺服比例阀实现微压力调控,将加工压力稳定控制在低压区间,避免过大应力导致锗片崩边开裂。在关键指标上,主流设备可通过优化工艺将锗片表面粗糙度稳定控制在合适的范围内,配合专用软质研磨垫与低损伤磨料组合的加工工艺,在保障材料去除率的同时,有效抑制表面缺陷与氧化污染产生。


  定制化工艺适配能力是锗片抛光研磨设备的核心竞争力。针对锗片材料特性,设备采用分段式加工方案:粗抛光阶段选用金刚石微粉磨料高效去除余量,精抛光阶段选用20nm低分散度SiO₂溶胶磨粒,搭配专用抗氧化添加剂提升表面光洁度与洁净度。针对不同规格需求,设备可适配2英寸至8英寸等不同尺寸的锗片加工,通过模块化设计快速切换工艺参数,兼容红外光学级、半导体级等不同品类锗片加工,适配红外探测器、光纤通信器件、半导体衬底等规模化生产需求。


  精细化监测与合规化设计保障加工稳定性。优质设备集成实时在线厚度与表面轮廓监测系统,可动态追踪锗片加工状态并精准调整参数;配套专用惰性气体保护清洗模块,先通过氩气氛围抑制氧化,再采用去离子水与中性清洗剂梯度超声清洗,减少磨料残留与氧化污染。设备采用上盘浮动定盘技术与自适应平衡结构,实现加工过程均匀受力,配合完善的故障预警机制降低人为干预影响。同时严格遵循光学与半导体洁净生产规范及电磁兼容性要求,确保长期稳定运行,满足红外光学与半导体领域对锗片表面质量的严苛要求。


  锗片抛光研磨设备凭借洁净低损伤加工能力、多元适配性与稳定运行性能,已深度融入红外光学与半导体制造产业链。其工艺方案广泛应用于红外探测器、热成像仪、光纤通信器件、半导体掺杂衬底等核心领域,有效支撑高性能锗片的量产需求。作为连接优质锗材料与高端终端应用的关键枢纽,这类设备以技术创新突破锗片加工瓶颈,以稳定品质保障产业升级,成为支撑红外光学与半导体产业高质量发展的重要力量。

 

 


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