激光干涉仪
当前位置:首页 > 产品展示 > 激光干涉仪 >
FM/060-LP激光平面干涉仪

原理:斐索干涉仪是一种原理为等厚干涉,用以检测光学元件的面形、光学镜头的波面像差以及光学材料均匀性等的精密仪器。其测量精度一般为1/10~1/100,为检测用光源的平均波长。
产品特点:
1. 结构紧凑,小型化;
Compact structure,miniaturization;
2. 防尘效果好;
Good dust prevention effect;
3. 具有不损伤被测物品、测试精度高、测量时间短;
4. 激光干涉仪的光源——激光,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点;
5. 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来使用;
6. 激光干涉仪测量范围大、分辨率高等。
可根据用户需求定制,并提供更长的保修期服务!

产品品牌:
MCF
产品型号:
FM/060-LP激光平面干涉仪
FM/060-LP laser plane interferometers
产品功能:
平面光学元件表面面型测量
Plane optical element surface measurement
应用范围:科学研究、精密器件加工及光学零件测试等领域的广泛应用。

测量方式:斐索干涉原理                   Tesr Type:Fizeau interferometry
通光口径:60mm                               Test Beam:Φ60mm
测试波长:635nm(半导体激光器) Test Wavelength:635nm(Semiconductor laser)
对准方式:简单两点对准                   Alignment:Simple two spot alignment
对准视场:±0.5度                              Alignment View:±0.5degrees
平面标准镜精度:PV:λ/20               Reference mirror:PV: λ/20
更多技术资料请联络我们!